可靠性測試可靠性檢測背景：產(chǎn)品在研制階段早期，主要是通過實(shí)驗(yàn)來發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷并加以改進(jìn)，進(jìn)而通過進(jìn)一步的試驗(yàn)來發(fā)現(xiàn)新的問題。經(jīng)驗(yàn)表明，70%左右的設(shè)計(jì)缺陷要靠對(duì)樣機(jī)進(jìn)行試驗(yàn)才能發(fā)現(xiàn)。試驗(yàn)不僅是產(chǎn)品研制生產(chǎn)過程中完善設(shè)計(jì)的有力措施，也是評(píng)價(jià)產(chǎn)品各項(xiàng)特性是否符合要求的主要手段。產(chǎn)品在其生產(chǎn)制造、貯存運(yùn)輸、...

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線性高低溫試驗(yàn)箱適用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高溫環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，以及溫度漸變?cè)囼?yàn)。還可以對(duì)電子元器件進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)。線性高低溫試驗(yàn)箱的控制系統(tǒng)：大屏幕觸摸畫面，熒幕操作簡單，程式編輯容易，無須按鍵輸入，操作按鈕直接觸摸點(diǎn)動(dòng)選項(xiàng)?？刂破鞑僮鹘缑嬖O(shè)中英文可供選擇...

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冷熱溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)出現(xiàn)試驗(yàn)結(jié)果不準(zhǔn)確改如何解決？冷熱溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)是一種能夠模擬大氣環(huán)境溫度快速變化規(guī)律的試驗(yàn)設(shè)備。主要測試電工、電子產(chǎn)品及其部件等材料在高溫、低溫環(huán)境下的性能指標(biāo)，確定產(chǎn)品質(zhì)量，改進(jìn)設(shè)計(jì)。如果測試結(jié)果不準(zhǔn)確，則測試對(duì)象沒有意義。如果測試結(jié)果錯(cuò)誤，需要盡快處理。通過以下幾點(diǎn)，確定設(shè)備...

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該產(chǎn)品適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等，同時(shí)通過此裝備試驗(yàn)，可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。高低溫沖擊試驗(yàn)箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域的測試設(shè)備，考核和確定電工、電子、汽車電器、材料等產(chǎn)品，在進(jìn)行高低溫試驗(yàn)的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能，使用的適應(yīng)性，適用于...

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用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在最短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之...

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高低溫沖擊試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)原理：冷熱沖擊試驗(yàn)箱測試方式分為兩箱式和三箱式，區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同；三箱式與兩箱式機(jī)器的區(qū)別：三箱式機(jī)器可滿足3槽（高溫、常溫、低溫）和2槽（高溫和低溫）兩種試驗(yàn)，三箱式機(jī)器測試品是靜止的；兩箱式只可滿足2槽（高溫和低溫）一種試驗(yàn)﹐兩箱式機(jī)器測試品是隨著提籃（測試槽）...

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恒溫恒濕機(jī)由制冷系統(tǒng)，加熱系統(tǒng)，控制系統(tǒng)，濕度系統(tǒng)，送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，和傳感器系統(tǒng)等組成，上述系統(tǒng)分屬電氣和機(jī)械制冷兩大方面。下面敘述幾個(gè)主要系統(tǒng)的工作原理和工作過程。1.制冷系統(tǒng)：制冷系統(tǒng)是恒溫恒濕機(jī)的關(guān)鍵部分之一。一般來說，制冷方式都是機(jī)械制冷以及輔助液氮制冷，機(jī)械制冷采用蒸汽壓縮式制冷，它們主要由...

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